IEC 62539:2007
電気絶縁破壊データの統計解析ガイド

規格番号

IEC 62539:2007

制定年

2007

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

最新版

IEC 62539:2007

交換する

IEC 112/59/FDIS:2007

範囲

電気絶縁システムおよび材料は、多数の試験片について破壊までの時間を測定する定常ストレス試験と、破壊電圧を測定する漸進的ストレス試験を使用してテストできます。 いずれの場合も、試験片ごとに異なる結果が得られ、与えられた試験条件では、得られたデータが統計的分布で表される可能性があることがわかります。 このガイドでは、そのようなデータを分析するための統計的手法を例を挙げて説明します。 このガイドの目的は、システムの特性評価、別の絶縁体システムとの比較、絶縁体システムでの破壊確率の予測などの目的で、固体絶縁材料の電気試験から得られた破壊までの時間と破壊電圧データを分析する統計的手法を定義することです。 与えられた時間または電圧。 完全なデータセットと、すべての標本が分解されなかった打ち切りデータセットを分析するための方法が提供されています。 このガイドには、データが分布によく適合しているかどうかを判断するための方法、分布の最も可能性の高いパラメータを推定するためのグラフィカルおよびコンピュータベースの手法、統計的信頼区間を推定するためのコンピュータベースの手法、および統計的信頼区間を推定するためのコンピュータベースの手法が例とともに含まれています。 データセットといくつかのケーススタディを比較します。 分析方法はワイブル分布について詳しく説明されています。 ガンベル分布と対数正規分布に対するいくつかの方法も紹介されています。 このガイドで使用されているコンピュータベースのテクニックの例はすべて、次の Web サイト「http://grouper.ieee.org/groups/930/IEEEGuide.xls」からダウンロードできます。 絶縁システムの短時間耐電圧または動作電圧を確認する方法は、このガイドには記載されていません。 このガイドに含まれる数学的手法は、機器の寿命の推定に直接適用できない場合があります。

IEC 62539:2007 規範的参照

• ASTM D149-97a(2004) 商用電源周波数における固体電気絶縁材料の絶縁破壊電圧および絶縁耐力の標準試験方法

IEC 62539:2007 発売履歴

• 2007 IEC 62539:2007 電気絶縁破壊データの統計解析ガイド