BS EN 60793-1-47:2007
光ファイバー パート 1-47: 測定方法と試験手順 マクロベンド損失

規格番号

BS EN 60793-1-47:2007

制定年

2007

出版団体

British Standards Institution (BSI)

状態

入れ替わる 2009-10

に置き換えられる

BS EN 60793-1-47:2009

最新版

BS EN 60793-1-47:2009

範囲

IEC 60793 のこの部分では、1 550 nm または 1 625 nm でのシングルモード ファイバ (カテゴリ B)、850 nm または 1 300 nm でのカテゴリ A1 マルチモード ファイバ、カテゴリ A3 および A4 マルチモード ファイバのマクロベンド損失を測定するための統一要件を確立しています。 650 nm、850 nm、または 1 300 nm で測定できるため、商業目的のファイバーやケーブルの検査に役立ちます。 この規格では、マクロベンド感度を測定するための 2 つの方法が規定されています。 方法 A マンドレル巻きは、カテゴリ B のシングルモード ファイバとカテゴリ A1 のマルチモード ファイバに適用されます。 方法 B 四半円の曲げは、カテゴリ A3 および A4 マルチモード ファイバに関係します。 これらの方法の両方で、光パワーはパワー モニタリングまたはカットバック技術のいずれかを使用して測定されます。 方法 A と B を同じファイバーに適用すると、異なる結果が生じることが予想されます。 これは、2 つの方法の主な違いは、曲げ半径や曲げられるファイバーの量などの展開にあるためです。 違いの理由は、A3 および A4 マルチモード ファイバは、シングルモードおよびカテゴリ A1 マルチモード ファイバと比較して、曲げが比較的少なく、短い長さで導入されることが予想されるためです。

BS EN 60793-1-47:2007 発売履歴

• 2009 BS EN 60793-1-47:2009 光ファイバー、測定方法と試験手順、マクロベンド損失
• 2007 BS EN 60793-1-47:2007 光ファイバー パート 1-47: 測定方法と試験手順 マクロベンド損失
• 2002 BS EN 60793-1-47:2002 光ファイバー.測定方法と試験手順.マイクロベンド損失