IEC 61788-4:2007
超電導 その4: 残留抵抗率の測定 Nb-Ti複合超電導体の残留抵抗率
- 規格番号
- IEC 61788-4:2007
- 制定年
- 2007
- 出版団体
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- 状態
- 2016-01
- に置き換えられる
- IEC 61788-4:2011
- 最新版
- IEC 61788-4:2020 RLV
- 範囲
- IEC 61788 のこの部分では、Nb-Ti フィラメントと Cu、Cu-Ni、または Cu/Cu-Ni マトリックスで構成される複合超電導体の残留抵抗比 (RRR) を決定するための試験方法について説明しています。 この方法は使用を目的としています。 長方形または円形の断面、RRR が 350 未満、断面積が 3 mm2 未満のモノリシック構造を持つ超電導体を使用し、すべての測定は磁場を印加せずに行われます。 この規格の本文に記載されている方法は次のとおりです。 「参照」方法とオプションの取得方法については、A.4 項で概説されています。
IEC 61788-4:2007 発売履歴
- 0000 IEC 61788-4:2020 RLV
- 2016 IEC 61788-4:2016 超電導 その4: 残留抵抗率の測定 Nb-Ti および Nb3Sn 複合超電導体の残留抵抗率
- 2011 IEC 61788-4:2011 超電導 その4: 残留抵抗率の測定 Nb-Ti複合超電導体の残留抵抗率
- 2007 IEC 61788-4:2007 超電導 その4: 残留抵抗率の測定 Nb-Ti複合超電導体の残留抵抗率
- 2001 IEC 61788-4:2001 超電導その4：残留抵抗率測定 Nb-Ti複合超電導体の残留抵抗率
