EJ/T 1204.4-2006
電離放射線測定の検出限界と判定閾値の決定 第4部:試料処理の影響を無視したリニアスケールアナログレートメータ測定 (英語版)

規格番号
EJ/T 1204.4-2006
言語
中国語版, 英語で利用可能
制定年
2006
出版団体
Professional Standard - Nuclear Industry
最新版
EJ/T 1204.4-2006
範囲
このセクションでは、サンプル処理の影響を無視して、線形スケールのアナログ速度計を使用した電離放射線測定の検出能力を評価するための適切な統計値を指定します。 この目的のために、統計的手法を使用して、特定のエラー確率を特徴付ける 2 つの統計値を定義します。 このセクションは、リニアスケールのアナログパルスカウントレートの測定に適用されます。

EJ/T 1204.4-2006 規範的参照

  • GB/T 3358.1 統計用語と表記法 第 1 部: 一般的な統計用語と確率で使用される用語*2009-10-15 更新するには
  • GB/T 3358.2 統計の語彙と表記法パート 2: 応用統計*2009-10-15 更新するには
  • GB/T 3358.3 統計用語と表記法パート 3: 実験計画*2009-10-15 更新するには

EJ/T 1204.4-2006 発売履歴

  • 2006 EJ/T 1204.4-2006 電離放射線測定の検出限界と判定閾値の決定 第4部:試料処理の影響を無視したリニアスケールアナログレートメータ測定
電離放射線測定の検出限界と判定閾値の決定 第4部:試料処理の影響を無視したリニアスケールアナログレートメータ測定



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