SJ 20965-2006
光電子デバイス用酸化ベリリウムセラミックキャリアの仕様 (英語版)

規格番号

SJ 20965-2006

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2006

出版団体

Professional Standard - Electron

最新版

SJ 20965-2006

範囲

この仕様書は、光電子デバイス用酸化ベリリウムセラミックキャリアの要件、品質保証規定、納入準備等を規定するものです。 この仕様は、光電子デバイス用の酸化ベリリウムセラミックキャリア（以下、キャリアと呼ぶ）に適用されます。

SJ 20965-2006 規範的参照

• GB/T 2413-1981 圧電セラミックスの体積密度の測定方法
• GB/T 5593-1996 電子部品構造用セラミック材料
• GB/T 5594.1-1985 電子部品構造用セラミック材料の性能試験方法 気密試験方法
• GB/T 5594.3-1985 電子部品の構造用セラミック材料の性能試験方法 平均線膨張係数の試験方法
• GB/T 5594.5-1985 電子部品構造におけるセラミック材料の性能試験方法 体積抵抗率試験方法

SJ 20965-2006 発売履歴

• 2006 SJ 20965-2006 光電子デバイス用酸化ベリリウムセラミックキャリアの仕様