GB/T 20724-2006
結晶厚が薄い場合の収束電子回折測定法 (英語版)
- 規格番号
- GB/T 20724-2006
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 2006
- 出版団体
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- 状態
- 2022-07
- に置き換えられる
- GB/T 20724-2021
- 最新版
- GB/T 20724-2021
- 範囲
- この規格は、透過型電子顕微鏡による薄い結晶試料の厚さを測定するための収束ビーム電子回折法を規定しています。 この方法は、直線寸法が10-9mから×10-3m、厚さが数十から数百ナノメートルの薄い結晶の厚さを測定するのに適しています。
GB/T 20724-2006 規範的参照
- GB/T 18907-2002 透過型電子顕微鏡による電子回折分析法を採用
GB/T 20724-2006 発売履歴
- 2021 GB/T 20724-2021 マイクロビーム分析 収束ビーム電子回折 薄い結晶の厚さの測定
- 2006 GB/T 20724-2006 結晶厚が薄い場合の収束電子回折測定法
