IEC 61788-2:2006
超電導 その 2: 臨界電流測定 NbSn 複合超電導体の直流臨界電流

規格番号

IEC 61788-2:2006

制定年

2006

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

最新版

IEC 61788-2:2006

交換する

IEC 90/195/FDIS:2006 IEC 61788-2:1999

範囲

IEC 61788 のこの部分では、ブロンズプロセスまたは内部スズ拡散プロセスによって製造され、銅/非銅比が 0.2 を超える Nb3Sn 複合超電導体の DC 臨界電流を決定するための試験方法について説明します。 この方法は、標準試験条件および上部臨界磁場の 0.7 倍以下の磁場下で、臨界電流が 1 000 A 未満で、n 値が 12 より大きい超電導体での使用を目的としています。 試験片は、試験中に既知の温度の液体ヘリウム槽に浸漬されます。 Nb3Sn 複合試験導体は、総円形断面積が 2 mm2 未満のモノリシック構造をしています。 この試験方法で使用される試験片の形状は、誘導コイル状の試験片です。 日常的なテストで許可されるこのテスト方法からの逸脱およびその他の特定の制限は、この規格で規定されています。 臨界電流が 1,000 A を超える、または総断面積が 2 mm2 を超える Nb3Sn 導体は、精度の低下とより重大な自己電界効果が予想されるこの方法で測定できます (付録 C を参照)。 他の、より特殊な試験片試験形状は、簡素化と精度維持のためにこの現在の規格から省略されている大規模な導体試験に適している可能性があります。 この規格に記載されている試験方法は、原則として他のプロセスで製造された Nb3Sn 複合ワイヤに適用されるべきです。 この方法は、適切な修正を加えれば他の超電導複合線材にも適用できることが期待されます。

IEC 61788-2:2006 発売履歴

• 2006 IEC 61788-2:2006 超電導 その 2: 臨界電流測定 NbSn 複合超電導体の直流臨界電流
• 1999 IEC 61788-2:1999 超電導体その2：臨界電流測定 ニオブ(3号)/錫複合超電導体の臨界直流電流