IEC 61189-3:2006
電気材料、相互接続構造およびアセンブリの試験方法 パート 3: 相互接続構造 (プリント基板) の試験方法

規格番号

IEC 61189-3:2006

制定年

2006

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

IEC 61189-3/AMD1:2006

最新版

IEC 61189-3:2007

IEC 61189-3:2006 発売履歴

• 2007 IEC 61189-3:2007 電気材料、プリント基板およびその他の接続構造およびアセンブリの試験方法 第 3 部: 接続構造 (プリント基板) の試験方法
• 2006 IEC 61189-3/AMD1:2006 電気材料、相互接続構造およびアセンブリの試験方法 パート 3: 相互接続構造 (プリント基板) の試験方法 リビジョン 1
• 2006 IEC 61189-3:2006 電気材料、相互接続構造およびアセンブリの試験方法 パート 3: 相互接続構造 (プリント基板) の試験方法
• 1999 IEC 61189-3/AMD1:1999 電気材料、配線構造およびアセンブリの試験方法 第 3 部: 配線構造 (プリント基板) の試験方法 修正 1
• 1997 IEC 61189-3:1997 電気材料、相互接続構造およびアセンブリの試験方法 パート 3: 相互接続構造 (プリント基板) の試験方法