SJ/Z 9001.11-1987
環境試験の基本手順 第2部：各種試験 Z/AMD試験：低温（低温）・低圧・湿熱総合シーケンス (英語版)
- 規格番号
- SJ/Z 9001.11-1987
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 出版団体
- Professional Standard - Electron
- 状態
- 最新版
- SJ/Z 9001.11-1987
- に置き換えられる
- GB/T 2423.27-1981
SJ/Z 9001.11-1987 発売履歴
- 1970 SJ/Z 9001.11-1987 環境試験の基本手順 第2部：各種試験 Z/AMD試験：低温（低温）・低圧・湿熱総合シーケンス
SJ/Z 9001.11-1987 環境試験の基本手順 第2部：各種試験 Z/AMD試験：低温（低温）・低圧・湿熱総合シーケンス は GB/T 2423.27-1981 電気・電子製品の基本的な環境試験手順 試験Z/AMD：低温・低圧・湿熱連続総合試験法 に変更されます。
