EN ISO 12179:2000
製品幾何量に関する技術仕様 (GPS) 表面構造: 等高線法 接触 (スタイラス) 機器の校正

規格番号

EN ISO 12179:2000

制定年

2000

出版団体

European Committee for Standardization (CEN)

状態

入れ替わる 2022-04

に置き換えられる

EN ISO 12179:2022

最新版

EN ISO 12179:2022

EN ISO 12179:2000 発売履歴

• 2022 EN ISO 12179:2022 製品幾何量に関する技術仕様 (GPS) 表面構造: 等高線法 接触 (スタイラス) 機器の校正
• 2000 EN ISO 12179:2000 製品幾何量に関する技術仕様 (GPS) 表面構造: 等高線法 接触 (スタイラス) 機器の校正