JIS B 0671-1:2002
製品形状の技術仕様 (GPS) 表面構造: 等高線法 層状の機能特性を持つ表面 パート 1: フィルタリングと一般的な測定条件

規格番号

JIS B 0671-1:2002

制定年

2002

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

JIS B 0671-1 AMD 1:2022

最新版

JIS B 0671-1 AMD 1:2022

範囲

この規格は，微細仕上げされたプラトー部分の下側に深い谷部分をもつ表面のためのフィルタ処理方法について規定する。このような表面にJIS B 0632のフィルタを適用して得られる輪郭曲線パラノータ評価のための基準線(以下，基準線という。)には，谷部分があることによって望ましないゆがみが生じる。より十分な基準線が得られるように，この規格で規定するフィルタ処理方法によって，基準線に及ぼす谷部分の影響を除く。備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき， IDT(一致している)，MOD（修正している），NEQ(同等でない)とする。

JIS B 0671-1:2002 発売履歴

• 2022 JIS B 0671-1 AMD 1:2022 幾何製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: プロファイル法、層状機能特性を持つ表面 パート 1: フィルタリングおよび一般的な測定条件 (修正 1)
• 2002 JIS B 0671-1:2002 製品形状の技術仕様 (GPS) 表面構造: 等高線法 層状の機能特性を持つ表面 パート 1: フィルタリングと一般的な測定条件