JIS Z 2340:2002
目視校正ゲージを使用した磁粉および液体浸透探傷検査の校正方法を決定

規格番号

JIS Z 2340:2002

制定年

2002

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

最新版

JIS Z 2340:2002

範囲

この規格は，目視基準ゲージを用いてPT又はMTにおいて得られた指示模様を直接的又は間接的に目視観察する条件を確認する方法について規定する。

JIS Z 2340:2002 発売履歴

• 2002 JIS Z 2340:2002 目視校正ゲージを使用した磁粉および液体浸透探傷検査の校正方法を決定