IEEE 1450.6-2005
デジタル検出ベクトル データ用のテスト インターフェイス言語 (STIL) コア テスト言語 (CTL)

規格番号

IEEE 1450.6-2005

制定年

2005

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

最新版

IEEE 1450.6-2005

範囲

SoC [システム オン チップ] 環境への統合後にそのコア用に開発されたテスト データの再利用をサポートし、外部の SoC 内のロジックのテスト パターンの作成を可能にする、コアの十分な説明を提供する言語を開発します。 芯。

IEEE 1450.6-2005 発売履歴

• 2005 IEEE 1450.6-2005 デジタル検出ベクトル データ用のテスト インターフェイス言語 (STIL) コア テスト言語 (CTL)