SN/T 2003.3-2006
電子・電気製品中の鉛、水銀、カドミウム、クロム、臭素の測定その3：蛍光X線分析による定量スクリーニング法 (英語版)

規格番号

SN/T 2003.3-2006

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2006

出版団体

Professional Standard - Commodity Inspection

最新版

SN/T 2003.3-2006

範囲

このセクションでは、波長分散型蛍光 X 線分析法を使用して、電子および電気製品中の鉛、水銀、カドミウム、クロムおよび臭素を定量的にスクリーニングするための定量方法を規定します。 このセクションは、電子・電気製品中の鉛、水銀、カドミウム、クロム、臭素の定量スクリーニング測定に適用され、ポリマー、金属製品、電子製品など、電子・電気製品のあらゆる種類の材料をカバーします。 この規格は、表 1 に示す測定対象元素の濃度範囲に適用されます。

SN/T 2003.3-2006 規範的参照

• GB/T 15000.5 標準サンプル作業ガイドライン パート 5: 品質管理サンプルの社内開発*， 2023-08-06 更新するには
• GB/T 16597 冶金製品の分析のための蛍光 X 線分析の一般原理*， 2019-06-04 更新するには
• GB/T 8170 数値の丸め規則と極値の表現と決定*， 2008-07-16 更新するには

SN/T 2003.3-2006 発売履歴

• 2006 SN/T 2003.3-2006 電子・電気製品中の鉛、水銀、カドミウム、クロム、臭素の測定その3：蛍光X線分析による定量スクリーニング法