BS EN 62008:2005
デジタルデータ収集システムおよび関連ソフトウェアの性能特性と校正

規格番号

BS EN 62008:2005

制定年

2006

出版団体

British Standards Institution (BSI)

最新版

BS EN 62008:2005

交換する

03/100280 DC-2003

範囲

この国際規格は、DAQ デバイスに依存するすべての測定システムが共通の規格を満たすことを保証するために、デジタル データ収集システムおよび関連ソフトウェアの性能特性と校正方法を指定します。 この規格は以下を対象としています。 - DAQ デバイスのアナログデジタルモジュール (ADM) の性能を説明するために DAQ デバイスメーカーが提供する必要がある最小仕様。 – 最小限の仕様セットを検証するための標準テスト戦略。 – DAQ デバイスに保存される、ADM に必要な最小限の校正情報。 – DAQ デバイスの ADM の外部校正および自己校正のための校正ソフトウェアの最小要件。 この規格は、プラント制御、振動測定、振動診断、音響、超音波測定、温度測定、圧力測定、パワーエレクトロニクスにおける測定などのアプリケーションなど、低周波信号変換を扱います。

BS EN 62008:2005 規範的参照

• IEC 60748-4-3 半導体デバイス、集積回路、パート 4-3: インターフェイス集積回路、アナログ/デジタル コンバータ (ADC) の動的規格*， 2006-08-01 更新するには
• ISO/IEC 17025 試験および校正ラボの能力に関する一般要件*， 2017-11-29 更新するには

BS EN 62008:2005 発売履歴

• 2006 BS EN 62008:2005 デジタルデータ収集システムおよび関連ソフトウェアの性能特性と校正