BS EN ISO 11254-2:2001
レーザーおよびレーザー関連機器 光表面に対するレーザー誘発損傷閾値の決定 S-on-1 テスト

規格番号

BS EN ISO 11254-2:2001

制定年

2001

出版団体

British Standards Institution (BSI)

状態

入れ替わる 2011-09

に置き換えられる

BS EN ISO 21254-1:2011

BS EN ISO 21254-2:2011

BS EN ISO 11254-2:2001(2002)

最新版

BS EN ISO 21254-1:2011

BS EN ISO 21254-2:2011

BS EN ISO 11254-2:2001(2002)

範囲

ISO 11254 のこの部分では、同様のレーザー パルスが連続して照射された光学表面のレーザー誘発損傷のしきい値を決定するための試験方法が規定されています。

BS EN ISO 11254-2:2001 発売履歴

• 2011 BS EN ISO 21254-1:2011 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザー誘発損傷閾値の試験方法 定義と一般原則
• 2001 BS EN ISO 11254-2:2001 レーザーおよびレーザー関連機器 光表面に対するレーザー誘発損傷閾値の決定 S-on-1 テスト

BS EN ISO 11254-2:2001 レーザーおよびレーザー関連機器 光表面に対するレーザー誘発損傷閾値の決定 S-on-1 テスト は BS EN ISO 21254-2:2011 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザー誘起損傷バルブの試験方法 しきい値の決定 に変更されます。

BS EN ISO 11254-2:2001 レーザーおよびレーザー関連機器 光表面に対するレーザー誘発損傷閾値の決定 S-on-1 テスト は BS EN ISO 21254-1:2011 レーザーおよびレーザー関連機器 レーザー誘発損傷閾値の試験方法 定義と一般原則 に変更されます。