BS DD IEC/TS 61967-3:2005 集積回路 150kHz ～ 1GHz の電磁放射の測定放射状放射の測定表面走査法規格と仕様

範囲: IEC 61967 のこの部分では、集積回路 (IC) の表面または表面近くの近傍の電界、磁界、または電磁界成分を評価する方法を定義するテスト手順が規定されています。この診断手順は、フロアプランニングや配電の最適化などの IC アーキテクチャ分析を目的としています。このテスト手順は、走査プローブがアクセス可能な任意の回路基板に実装された IC からの測定に適用できます。異なる IC 間の表面スキャン発光を比較するには、IEC 61967-1 で定義された標準化されたテストボードを使用する必要があります。この技術は、IC 内部の無線周波数 (RF) ソースの詳細なパターンを提供できます。測定の分解能は、測定プローブの機能とプローブポジショナーの精度によって決まります。この方法は、10 MHz ～ 1 GHz の周波数範囲での使用を目的としています。周波数上限の拡張は既存のプローブ技術で可能ですが、この仕様の範囲を超えています。プローブは、プログラムされたパターンに従って、IC 表面に対して平行または垂直な面で機械的に走査されます。データはコンピュータ処理されて、スキャン周波数での電界強度の色が強調された表現が提供されます。

BS DD IEC/TS 61967-3:2005 発売履歴

BS DD IEC/TS 61967-3:2005 集積回路 150kHz ～ 1GHz の電磁放射の測定放射状放射の測定表面走査法は BS PD IEC/TS 61967-3:2014 集積回路電磁放射線の測定放射放射線の測定表面走査法に変更されます。