GB/T 20018-2005
金属・非金属皮膜の膜厚測定 β線後方散乱法 (英語版)

規格番号

GB/T 20018-2005

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2005

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 20018-2005

範囲

この規格は、β線後方散乱装置を使用した膜厚の非破壊測定方法を規定しています。 金属および非金属基材上の金属および非金属コーティングの厚さを測定するのに適しています。 この方法を使用すると、コーティングと基板の原子番号または同等の原子番号が適切な値だけ異なるはずです。

GB/T 20018-2005 発売履歴

• 2005 GB/T 20018-2005 金属・非金属皮膜の膜厚測定 β線後方散乱法