GB/T 16921-2005
金属皮膜の膜厚測定 X線分光分析 (英語版)
- 規格番号
- GB/T 16921-2005
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 2005
- 出版団体
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- 最新版
- GB/T 16921-2005
- 交換する
- GB/T 16921-1997
- 範囲
- この規格は、X 線分光法による金属コーティングの厚さを測定する方法を指定します。 この規格で使用される測定方法は、基本的に単位面積当たりの質量を求める方法です。 被覆材の密度がわかっている場合、測定値は被覆材の線厚さで表すこともできます。 この測定方法では、三層被覆層システムを同時に測定したり、三層構成要素の厚さと組成を同時に測定したりできます。 特定のオーバーレイ材料の実際の測定範囲は、主に分析される特性蛍光 X 線のエネルギーと許容される測定の不確かさによって決まり、使用する機器や操作手順によって異なります。
GB/T 16921-2005 発売履歴
- 2005 GB/T 16921-2005 金属皮膜の膜厚測定 X線分光分析
- 1997 GB/T 16921-1997 X線分光法による金属皮膜厚さの測定方法
