ANSI/IEEE 300:1988
半導体荷電粒子検出器のテスト手順

規格番号

ANSI/IEEE 300:1988

制定年

1988

出版団体

American National Standards Institute （ANSI)

最新版

ANSI/IEEE 300:1988

範囲

この規格は、荷電粒子の高分解能分光法の検出に使用される半導体放射線検出器に適用されます。

ANSI/IEEE 300:1988 発売履歴

• 1988 ANSI/IEEE 300:1988 半導体荷電粒子検出器のテスト手順