BS IEC 60747-8:2001
ディスクリート半導体デバイスおよび集積回路、電界効果トランジスタ、電力変換電界効果トランジスタの測定方法における追加の電力、特性、および補正。
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BS IEC 60747-8:2001
規格番号
BS IEC 60747-8:2001
制定年
2001
出版団体
British Standards Institution (BSI)
状態
入れ替わる
2011-06
に置き換えられる
BS IEC 60747-8:2010
最新版
BS IEC 60747-8:2010+A1:2021
交換する
92/34150 DC:1992
BS 6493-1.8:1985
範囲
IEC 60747-1 と併せてお読みください
BS IEC 60747-8:2001 発売履歴
2021
BS IEC 60747-8:2010+A1:2021
半導体デバイス ディスクリートデバイス 電界効果トランジスタ
2011
BS IEC 60747-8:2010
半導体デバイス、ディスクリートデバイス、電界効果トランジスタ
2001
BS IEC 60747-8:2001
ディスクリート半導体デバイスおよび集積回路、電界効果トランジスタ、電力変換電界効果トランジスタの測定方法における追加の電力、特性、および補正。
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