JIS B 0090-7:2001
光学部品およびシステム図の作図 パート 7: 表面欠陥公差
- 規格番号
- JIS B 0090-7:2001
- 制定年
- 2001
- 出版団体
- Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
- 状態
- に置き換えられる
- JIS B 0090-7:2012
- 最新版
- JIS B 0090-7:2012
- 範囲
- JIS B 0090の規格群は，製造及び検査に用いられる製図における光学素子及びシステムに対する設計上並びに機能上の要求事項の表記について規定する。この規格は，個々の光学素子の光学的表面の有効口径範囲内にある表面欠陥[スクラッチ(scratches，ひっかききず，その他のきず)，ぶつ(pits)，治工具こん跡(fixture marks)，コーティングのきず(coating blemishe)など]の許容水準の表示を規定する。また，許容される縁のかけ(edge chips)の大きさの表示方法も規定する。表面欠陥の許容水準は，外見的（美的）な効果のほかに（光学素子の像形成又は耐久性に影響する）機能的な効果を考慮に入れて，規定されることに注意しなければならない。この規格は，透過面及び反射面のいずれにも適用する。(コーティングを含めて)仕上げされた光学素子には適用するが，組立部品には適用しない。許容される表面欠陥は，方決I（欠陥によって損なわれるか，影響を受ける表面積）又は方法Ⅱ(欠陥の可視度)のいずれかで規定するとよいことが分かる。許容される表面欠陥を表示する規定がいずれの方法に対しても与えられる。備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき， IDT(一致している)，MOD（修正している），NEQ(同等でない)とする。
JIS B 0090-7:2001 発売履歴
- 2021 JIS B 0090-7:2021 光学部品およびシステムの図面の作成 パート 7: 表面欠陥
- 2012 JIS B 0090-7:2012 光学部品およびシステム図の作図 パート 7: 表面欠陥公差
- 2001 JIS B 0090-7:2001 光学部品およびシステム図の作図 パート 7: 表面欠陥公差
