JIS B 0090の規格群は,製造及び検査に用いられる製図における光学素子に及びシステムに対する設計上並びに機能上の要求事項の表記について規定する。この規格は,表面形状公差を表示する約束を規定する。備考 干渉計測法の用語が公差の規定,特に公差を規定する単位に対して使用される。しかし,これは光学部品の実際の検査に干渉的方法だけを用いることができるという意味ではない。もし,ここで規定される単位に結果が変換されるならば,他の非干渉的方法を使用してもよい。この規格は,球面と非球面の両方に適用する。備考 JIS B 0090-12は,この規格を参照することなく規定される非球面の表面形状公差を許容している。附属書A及び附属書Bは,表面形状偏差量のタィプを決定する方法について記述する。附属書Cは表面形状偏差のニ乗平均(rms,二乗平均平方根)の物理的意味を示す。備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき, IDT(一致している),MOD(修正している),NEQ(同等でない)とする。