JIS Z 2345:2000
超音波検査用標準テストブロック

規格番号

JIS Z 2345:2000

制定年

2000

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

状態

撤回

に置き換えられる

JIS Z 2345-1:2018

JIS Z 2345-2:2018

JIS Z 2345-3:2018

JIS Z 2345-4:2018

最新版

JIS Z 2345-1:2018

JIS Z 2345-2:2018

JIS Z 2345-3:2018

JIS Z 2345-4:2018

範囲

この規格は，超音波探傷装置の校正，調整及び探傷感度の調整に使用する標準試験片について規定する。

JIS Z 2345:2000 発売履歴

• 2018 JIS Z 2345-1:2018 超音波検査用の標準テストブロック パート 1: A1 標準テストブロック
• 2000 JIS Z 2345:2000 超音波検査用標準テストブロック
• 1994 JIS Z 2345:1994 超音波検査用標準テストブロック