IEC 61788-5:2000
超電導体その5:銅とニオブ・チタン複合超電導体との超電導体体積係数の超電導体体積換算係数測定

規格番号
IEC 61788-5:2000
制定年
2000
出版団体
International Electrotechnical Commission (IEC)
状態
 2013-05
に置き換えられる
IEC 61788-5:2013
最新版
IEC 61788-5:2013
範囲
IEC 61788 のこの部分では、Cu/Nb-Ti 複合超電導線材の銅と超電導体の体積比を決定するための試験方法について説明します。 この試験方法は、断面積が 0.1 mm ~ 3 mm、Nb-Ti フィラメントの直径が 2 μm ~ 200 μm の Cu/Nb-Ti 複合超電導線での使用を目的としています。 銅と超電導体の体積比が 0.5 以上。 この方法で説明する Cu/Nb-Ti 複合テスト導体は、円形または長方形の断面を持つモノリシック構造を持っています。 この試験方法は銅を硝酸で溶解することにより実施されます。 日常的なテストで許可されるこのテスト方法からの逸脱およびその他の特定の制限は、この規格で規定されています。 断面積、フィラメント直径、および銅対超電導体体積比の限界を超える Cu/Nb-Ti 導体は、精度の低下が予想されるこの現在の方法で測定できます。 他の、より特殊な試験片試験形状は、制限を超えた導体により適している可能性があり、簡略化して精度を維持するために、この現在の規格からは省略されています。 この規格に記載されている試験方法は、適切な修正を加えた上で他の超電導複合線材にも適用されることが期待されます。

IEC 61788-5:2000 発売履歴

  • 2013 IEC 61788-5:2013 超電導体 パート 5: 超電導体体積比測定マトリックス 銅と銅/ニオブチタン複合超電導体超電導体の体積比
  • 2000 IEC 61788-5:2000 超電導体その5:銅とニオブ・チタン複合超電導体との超電導体体積係数の超電導体体積換算係数測定



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