GB/T 18271.1-2000
プロセス測定および制御装置の一般的な性能評価の方法と手順 パート 1; 概要 (英語版)
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GB/T 18271.1-2000
規格番号
GB/T 18271.1-2000
言語
中国語版,
英語で利用可能
制定年
2000
出版団体
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
状態
入れ替わる
2018-02
に置き換えられる
GB/T 18271.1-2017
最新版
GB/T 18271.1-2017
範囲
この規格は、プロセス測定および制御デバイスの機能および性能特性をテストし、テストレポートを作成するための一般的な方法と手順を指定します。 この規格で指定されているテスト方法と手順は、あらゆる種類のテスト、またはあらゆる種類のプロセス測定および制御装置に適用できます。 これらのテストは、指定された入力変数と出力変数、および入力変数と出力変数間の特定の関係 (伝達関数) を使用して、アナログとデジタルの両方のプロセス測定および制御デバイスに適用されます。 特別な試験項目を必要とする機器については、この規格に従って、またそのような特別な試験項目について特別な規定を設けた製品規格と組み合わせて試験を実施する必要があります。 この規格のパート 1 では、一連の規格全体に適用される一般規則について説明します。
GB/T 18271.1-2000 発売履歴
2017
GB/T 18271.1-2017
プロセス測定および制御装置の一般的な性能評価の方法と手順 パート 1: 一般
2000
GB/T 18271.1-2000
プロセス測定および制御装置の一般的な性能評価の方法と手順 パート 1; 概要
GB/T 18271.1-2000 - すべての部品
GB/T 18271.1-2017 プロセス測定および制御装置の一般的な性能評価の方法と手順 パート 1: 一般
GB/T 18271.2-2017 プロセス測定および制御装置の一般的な性能評価の方法と手順 パート 2: 基準条件下でのテスト
GB/T 18271.3-2017 プロセス測定および制御装置の一般的な性能評価の方法と手順 パート 3: 影響を与える量の影響に関するテスト
GB/T 18271.4-2017 プロセス計測制御装置の一般的な性能評価方法と手順 第 4 部:評価報告書の内容
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