DIN EN ISO 12179:2000
製品の幾何学的仕様 (GPS)、表面構造: プロファイル法、接触 (スタイラス) 機器の校正
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DIN EN ISO 12179:2000
規格番号
DIN EN ISO 12179:2000
制定年
2000
出版団体
German Institute for Standardization
状態
入れ替わる
に置き換えられる
DIN EN ISO 12179 Berichtigung 1:2009
最新版
DIN EN ISO 12179:2023-04
交換する
DIN EN ISO 12179:1998
DIN EN ISO 12179:2000 発売履歴
2023
DIN EN ISO 12179:2023-04
製品の幾何学的仕様 (GPS) - 表面テクスチャー: 等高線法 - 接触 (スタイラス) 機器の校正
2023
DIN EN ISO 12179:2023
製品の幾何学的仕様 (GPS) 表面テクスチャ: 輪郭法を使用した接触 (スタイラス) 機器の校正 (ISO 12179:2021)
1970
DIN EN ISO 12179 E:2020-03
製品幾何学的仕様(GPS) 表面性状:等高線法接触(案)
2009
DIN EN ISO 12179 Berichtigung 1:2009
製品の幾何学的数量の仕様 (GPS) 表面構造: プロファイル法 接触 (スタイラス) 機器の校正 (ISO 12179-2000) ドイツ語版規格 EN ISO 12179-2000、DIN EN ISO 12179-2000-の訂正11 表 ドイツ語版 EN ISO 12179-2000/AC-2008
2000
DIN EN ISO 12179:2000
製品の幾何学的仕様 (GPS)、表面構造: プロファイル法、接触 (スタイラス) 機器の校正
0000
DIN EN ISO 12179:1998
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