BS EN 12799:2000
ろう付け ろう付け接合部の非破壊検査

規格番号

BS EN 12799:2000

制定年

2000

出版団体

British Standards Institution (BSI)

状態

入れ替わる 2000-01

に置き換えられる

BS EN 12799:2000(2004)

最新版

BS EN 12799:2000(2004)

交換する

97/705547 DC-1997 BS 1723-3:1988

範囲

この欧州規格では、ろう付け接合部の試験を実行するために必要な非破壊検査手順と試験片の種類について説明しています。 記載されている非破壊検査方法は次のとおりです。 a) 目視検査 (第 4 項を参照)。 b) 超音波検査（第 5 項を参照）。 c) 放射線検査（第 6 項を参照）。 d) 浸透検査（第 7 項を参照）。 e) 漏れ検査（第 8 項を参照）。 f) 証明試験（第 9 項を参照）。 g) サーモグラフィー (第 10 項を参照)。 これらの試験が適用されるろう付け接合部は、ろう付け接合部の設計データを取得するために製造された試験サンプルか、ろう付け手順またはろう付けアセンブリの部品の承認試験の一部として製造されたかのいずれかです。 各試験について記載されている試験片の種類は、ろう付けアセンブリを扱う工学応用規格に引用または組み込むことができます。 この欧州規格は、検査するサンプルの数や許可される繰り返し検査を推奨していません。 また、必要な注意事項に関するガイダンスを提供することを除いて、ろう付け接合部のサンプリング方法についても規定しておらず、また、いずれの試験にも適用される合格基準についてもコメントしていません。 いかなる状況においても、どのテストを適用する必要があるかを定義する試みは行われません。 これは、特定のテスト方法を選択する前に確立されるべき事項です。 非破壊検査の方法は、特定の種類のろう付けアセンブリとは関連しませんが、説明されている種類の検査の一般原則を定めています。 満足のいく検査方法は、使用する装置と検査する試験片の特性に関するすべての関連要素を考慮した後でのみ開発および使用できることを強調します。

BS EN 12799:2000 発売履歴

• 0000 BS EN 12799:2000(2004)
• 2000 BS EN 12799:2000 ろう付け ろう付け接合部の非破壊検査