JIS G 1604:2000
合金鉄の化学分析のためのサンプリング方法 (パート 4: ニッケル鉄合金)

規格番号

JIS G 1604:2000

制定年

2000

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

最新版

JIS G 1604:2000

交換する

JIS G 1604:1985

範囲

この規格は，蛍光X線分析，発光分光分析などの物理分析方法，乾式方式による炭素及び硫黄の分析方法，又はそのほかの成分の化学分析方法のための代表性のある分析用試料を得るために行う，鋳塊形状，片形状若しくは粒形状のフエロニッケルのサンプリング方法，又は溶湯からのフエロニッケルのサンプリング方法について規 定する。

JIS G 1604:2000 発売履歴

• 2000 JIS G 1604:2000 合金鉄の化学分析のためのサンプリング方法 (パート 4: ニッケル鉄合金)
• 1985 JIS G 1604:1985 合金鉄の化学分析のためのサンプリング方法 (パート 4. ニッケル鉄合金)