JIS K 0142:2000
表面化学分析 情報フォーマット

規格番号

JIS K 0142:2000

制定年

2000

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

最新版

JIS K 0142:2000

範囲

この規格はJIS K 0141 :表面化学分析ーデータ転送フォーマットを補完するためのフオーマットを規定するものであり，表面化学分析スペクトルデータべースの構築，増強，変更のためのデータを送信するためのものである。フォーマットはオージェ電子分光法(AES)及びX線光電子分光法(XPS)に適用される。

JIS K 0142:2000 発売履歴

• 2000 JIS K 0142:2000 表面化学分析 情報フォーマット