GB/T 18032-2000
ガリウムヒ素単結晶AB微小欠陥検査法 (英語版)

規格番号

GB/T 18032-2000

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

2000

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 18032-2000

範囲

この規格はガリウムヒ素単結晶ABの微小欠陥の検査方法を規定しています。 この規格は、GaAs 単結晶 AB 微小欠陥密度 (AB-EPD) の検査に適用されます。 検査面は(100)面です。 測定範囲は5 X 10 cm未満です

GB/T 18032-2000 発売履歴

• 2000 GB/T 18032-2000 ガリウムヒ素単結晶AB微小欠陥検査法