BS IEC 60748-11:2000
半導体デバイス、集積回路、半導体集積回路のサブ仕様（ハイブリッド回路を除く）

規格番号

BS IEC 60748-11:2000

制定年

1991

出版団体

British Standards Institution (BSI)

最新版

BS IEC 60748-11:2000

交換する

88/28415 DC:1988 BS 9450:1998

範囲

品質評価手順、検査要件、スクリーニング手順、サンプリング要件、マルチチップ回路を含むカプセル化されたテストおよび測定手順。 BS QC 700000 と併せてお読みください

BS IEC 60748-11:2000 発売履歴

• 1991 BS IEC 60748-11:2000 半導体デバイス、集積回路、半導体集積回路のサブ仕様（ハイブリッド回路を除く）
• 1998 BS 9450:1998 品質評価済み (性能承認手順) の集積回路およびマイクロコンポーネントの仕様 一般データおよびテスト方法
• 1991 BS IEC 60748-11:1991 半導体デバイス集積回路 半導体集積回路のサブ仕様（ハイブリッド回路を除く）
• 1975 BS 9450:1975 品質評価済み (証明書レビュー手順) の集積回路およびマイクロコンポーネントの仕様 一般データおよびテスト方法

BS IEC 60748-11:2000 半導体デバイス、集積回路、半導体集積回路のサブ仕様（ハイブリッド回路を除く） は BS 9450:1998 品質評価済み (性能承認手順) の集積回路およびマイクロコンポーネントの仕様 一般データおよびテスト方法 から変更されます。