DIN 50456-3:1999
半導体プロセス技術で使用される材料の試験 電子部品用成形材料の特性の表現 パート 3: カチオン性不純物の測定

規格番号

DIN 50456-3:1999

制定年

1999

出版団体

German Institute for Standardization

最新版

DIN 50456-3:1999

範囲

この文書では、DIN 50456-2 に準拠したプレッシャークッカーテストによるエポキシ樹脂成形材料の水性抽出物の分析による、電子部品用成形材料中の Na、K、および CA の測定方法が定義されています。 #,,#

DIN 50456-3:1999 発売履歴

• 1999 DIN 50456-3:1999 半導体プロセス技術で使用される材料の試験 電子部品用成形材料の特性の表現 パート 3: カチオン性不純物の測定