GB/T 6426-1999
強誘電体セラミック材料のヒステリシスループの準静的試験方法 (英語版)

規格番号

GB/T 6426-1999

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

1999

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 6426-1999

交換する

GB/T 6426-1986

範囲

この規格は、強誘電体セラミック材料のヒステリシス ループの準静的試験方法を指定します。 この規格は、強誘電性セラミック材料のヒステリシス ループをテストし、測定されたヒステリシス ループから材料の抗電界強度 Ec を決定するのに適用できます。 残留分極Prと自発分極Pr。

GB/T 6426-1999 発売履歴

• 1999 GB/T 6426-1999 強誘電体セラミック材料のヒステリシスループの準静的試験方法
• 0000 GB/T 6426-1986