GB/T 17702.2-1999
パワーエレクトロニクス用コンデンサ 第 2 部 ヒューズの絶縁試験、破壊試験、自己修復試験、耐久性試験の要件 (英語版)
- 規格番号
- GB/T 17702.2-1999
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 1999
- 出版団体
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- 状態
- 2013-07
- に置き換えられる
- GB/T 17702-2013
- 最新版
- GB/T 17702-2021
- 範囲
- この規格は、GB/T 17702.1 に従ってパワー エレクトロニクス コンデンサに適用され、これらのコンデンサに対する次の要件を指定します。 -- ヒューズの絶縁テスト。 --破壊試験; ——自己修復テスト; ——耐久性テスト。
GB/T 17702.2-1999 発売履歴
- 2021 GB/T 17702-2021 パワーエレクトロニクス用コンデンサ
- 2013 GB/T 17702-2013 パワーエレクトロニクス用コンデンサ
- 1999 GB/T 17702.2-1999 パワーエレクトロニクス用コンデンサ 第 2 部 ヒューズの絶縁試験、破壊試験、自己修復試験、耐久性試験の要件
