GB/T 17723-1999
金製品のコーティング成分のX線エネルギー分光測定法 (英語版)
- 規格番号
- GB/T 17723-1999
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 1999
- 出版団体
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- 状態
- 2009-05
- に置き換えられる
- GB/T 17362-2008
- 最新版
- GB/T 17362-2008
- 範囲
- この規格は、走査型電子顕微鏡・X線エネルギー分光計（X線を備えた電子プローブ装置を含む）を用いて、金めっき製品の表面に形成された金および金合金の単層均一皮膜の組成を非破壊で分析・測定する方法を規定しています。 線エネルギー分光計）。 この規格は、表面金めっきおよび金合金に適用され、組成測定における皮膜の厚さは0.2μm以上3μm以下となります（下地および金皮膜と同様の皮膜の組成測定を除く） ）。
GB/T 17723-1999 発売履歴
- 2009 GB/T 17362-2008 金製品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
- 1999 GB/T 17723-1999 金製品のコーティング成分のX線エネルギー分光測定法
GB/T 17723-1999 金製品のコーティング成分のX線エネルギー分光測定法 は GB/T 17362-2008 金製品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法 に変更されます。
