GB/T 17722-1999
走査型電子顕微鏡による金属キャップ層の厚さの測定方法 (英語版)

規格番号

GB/T 17722-1999

言語

中国語版, 英語で利用可能

制定年

1999

出版団体

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

最新版

GB/T 17722-1999

範囲

この規格は、さまざまな金製品の金コーティングの厚さを走査型電子顕微鏡で測定する方法に関する技術要件を規定しています。 この規格は電子プローブ装置による金皮膜の厚さ測定にも適用でき、適用厚さ測定範囲は0.2～10μmです。 他の金属材料の膜厚測定も参考に行うことができます。

GB/T 17722-1999 発売履歴

• 1999 GB/T 17722-1999 走査型電子顕微鏡による金属キャップ層の厚さの測定方法