DIN 51932:1998
炭素材料の試験 - 円筒状に加工された電極の体積密度の測定

規格番号
DIN 51932:1998
制定年
1998
出版団体
German Institute for Standardization
状態
に置き換えられる
DIN 51932:2010
DIN 51932 E:2009-02
最新版
DIN 51932:2010-06
範囲
この文書では、15 ~ 35 Ωの室温で円筒形に加工された電極のかさ密度を測定する方法が指定されています。

DIN 51932:1998 発売履歴

  • 2010 DIN 51932:2010-06 炭素材料の試験 円筒加工用電極の充填密度の決定
  • 2010 DIN 51932:2010 炭素材料の試験 - 円筒状に加工された電極体の密度の測定
  • 1998 DIN 51932:1998 炭素材料の試験 - 円筒状に加工された電極の体積密度の測定
炭素材料の試験 - 円筒状に加工された電極の体積密度の測定



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