JIS R 1637:1998
四探針配置法による導電性ファインセラミックス薄膜の抵抗率測定方法

規格番号

JIS R 1637:1998

制定年

1998

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

最新版

JIS R 1637:1998

範囲

この規格は，フアインセラミックス薄膜の抵抗率を4探針法によって試験する方法について規定する。

JIS R 1637:1998 発売履歴

• 1998 JIS R 1637:1998 四探針配置法による導電性ファインセラミックス薄膜の抵抗率測定方法