IEC 61650:1997
信頼性データ解析技術 2つの定数故障率と2つの定数故障（イベント）密度の比較手順

規格番号

IEC 61650:1997

制定年

1997

出版団体

International Electrotechnical Commission (IEC)

最新版

IEC 61650:1997

範囲

この国際規格は、観察された 2 つの故障率を比較する手順を規定しています。 - 破壊強度; 　——関連するイベントの発生率/強度。 この手順は、2 つの観察セット間の明らかな差が統計的に有意であるとみなせるかどうかを判断するために使用されます。 障害 (イベント) までの時間間隔、および障害 (イベント) 間の時間間隔は独立しており、観察期間中 (つまり、累積された関連テスト時間) に同様に指数関数的に分布していると想定されます。 注 - この仮定は、故障率/強度が一定であることを意味します。 さらに、比較対象の 2 セットの項目の観測された信頼性特性の間に差 (改善または劣化) が存在すると考える技術的またはその他の理由があると想定されます。 典型的なアプリケーションの例を 5.4 で説明します。 この方法は、指定されたリスク (有意水準) で、2 つの一連の観察が同じ母集団または同じプロセスに属するかどうか、つまり、同じ真の平均値を持っているかどうかを示す仮説検定として設計されています。 注 - 修理されていないアイテムに関連する故障率は、故障までの時間の分布に関連しています。 修理されたアイテムのみに関連する故障強度は、時間軸上の故障間の時間など、一連のイベントを表す点プロセスに関連付けられます。 この手順は故障率/強度の比較に限定されず、上記の仮定が有効であれば、関連するイベントの 2 つのシリーズの観察にも適用できます。 注 - 2 つの一連の観察は、同じ母集団からの項目、または異なる条件 (環境や負荷など) での同じ項目、または単なる比較可能な一連のイベント (道路での自動車事故など) のものである場合があります。 数値的手法とグラフィック手順が規定されています。 2 つのシリーズに関連する観察期間は等しい必要はありませんが、等しい場合、方法は非常に簡単です。

IEC 61650:1997 発売履歴

• 1997 IEC 61650:1997 信頼性データ解析技術 2つの定数故障率と2つの定数故障（イベント）密度の比較手順