GB/T 1553-1997
シリコンおよびゲルマニウムの少数キャリア寿命を測定するための光導電率減衰法 (英語版)
- 規格番号
- GB/T 1553-1997
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 1997
- 出版団体
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- 状態
- 2010-06
- に置き換えられる
- GB/T 1553-2009
- 最新版
- GB/T 1553-2023
- 範囲
- この規格は、シリコンおよびゲルマニウムの単結晶における少数キャリア寿命の測定方法を規定しています。 この規格は、外部シリコンおよびゲルマニウム単結晶におけるキャリア再結合のプロセスにおける非平衡少数キャリアの寿命の測定に適用されます。
GB/T 1553-1997 発売履歴
- 2023 GB/T 1553-2023 シリコンおよびゲルマニウムの少数キャリア寿命の決定 光導電率減衰法
- 2009 GB/T 1553-2009 シリコンおよびゲルマニウムの少数キャリア寿命を測定するための光導電率減衰法
- 1997 GB/T 1553-1997 シリコンおよびゲルマニウムの少数キャリア寿命を測定するための光導電率減衰法
