GB/T 16526-1996
パッケージのリード間容量およびリード負荷容量の試験方法 (英語版)

規格番号
GB/T 16526-1996
言語
中国語版, 英語で利用可能
制定年
1996
出版団体
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
最新版
GB/T 16526-1996
範囲
この規格は、半導体集積回路パッケージのリード間容量およびリード負荷容量の試験方法を規定しています。 この規格は、半導体集積回路のセラミック、金属、プラスチックパッケージのリード間容量およびリード負荷容量の測定に適用されます。

GB/T 16526-1996 発売履歴

  • 1996 GB/T 16526-1996 パッケージのリード間容量およびリード負荷容量の試験方法
パッケージのリード間容量およびリード負荷容量の試験方法



© 著作権 2024