JIS K 0131:1996
X線回折装置測定分析通則

規格番号

JIS K 0131:1996

制定年

1996

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

最新版

JIS K 0131:1996

範囲

この規格は，X線回折装置を用いて回折X線を測定 し，これによって物質の同定・定量，格子定数の精密測定，結晶化度の測定などを行う場合の一般的事項について規定する。

JIS K 0131:1996 発売履歴

• 1996 JIS K 0131:1996 X線回折装置測定分析通則