GB/T 4377-1996
半導体集積回路のボルテージレギュレータの試験方法の基本原理 (英語版)
- 規格番号
- GB/T 4377-1996
- 言語
- 中国語版, 英語で利用可能
- 制定年
- 1996
- 出版団体
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- 状態
- 2018-08
- に置き換えられる
- GB/T 4377-2018
- 最新版
- GB/T 4377-2018
- 交換する
- GB 4377-1984
- 範囲
- この規格は、半導体集積回路のボルテージレギュレータ（以下、デバイス）の電気的特性試験方法の基本原則を定めたものです。 この規格は半導体集積回路の電圧調整器の電気的特性の試験に適用され、二端子（単ポート）デバイスには適用されません。
GB/T 4377-1996 発売履歴
- 2018 GB/T 4377-2018 半導体集積回路のボルテージレギュレータの試験方法
- 1996 GB/T 4377-1996 半導体集積回路のボルテージレギュレータの試験方法の基本原理
- 0000 GB 4377-1984
