JIS H 0604:1995
光伝導減衰法を用いたシリコン単結晶中の少数キャリアの寿命測定

規格番号

JIS H 0604:1995

制定年

1995

出版団体

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

最新版

JIS H 0604:1995

範囲

この規格は，シリコン単結晶中の少数キャリアのパルク再粘合ライフタイム（以下，パルクライフタイム又はτBという。）を直流回路を用いた光導電減衰法によって測定する方法について規定する。なお，測定する単結晶は均一な組成をもち，抵抗率がlΩ·cm以上のものとする。

JIS H 0604:1995 発売履歴

• 1995 JIS H 0604:1995 光伝導減衰法を用いたシリコン単結晶中の少数キャリアの寿命測定