IEEE Std C63.16-1993
電子機器の静電気放出試験の方法と規格に関するガイド

規格番号

IEEE Std C63.16-1993

制定年

1993

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

IEEE Std C63.16-2016

最新版

IEEE Std C63.16-2016

範囲

このガイドでは、電子機器の静電気放電 (ESD) テストの方法について説明します。 ここで説明するテスト方法とパラメータは、テスト結果の標準化と再現性のために選択されています。 このガイドでは、機器の ESD への曝露と応答を評価するためのテスト基準も推奨しています。 このガイドでは、ESD テストの限界値を設定したり、落雷、高電圧破壊、絶縁耐力、送電線のコロナ、または核電磁パルスに対する機器の過渡応答を扱ったりするものではありません。

IEEE Std C63.16-1993 発売履歴

• 2016 IEEE Std C63.16-2016 電子機器の静電気放電試験方法と基準に関する米国国家規格ガイド
• 1993 IEEE Std C63.16-1993 電子機器の静電気放出試験の方法と規格に関するガイド