IEEE Std 1838-2019
三次元積層集積回路のテスト アクセス アーキテクチャに関する IEEE 標準

規格番号
IEEE Std 1838-2019
制定年
2020
出版団体
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
最新版
IEEE Std 1838-2019
範囲
IEEE Std 1838 はダイ中心の標準です。 これは、マルチダイスタックの一部となることが意図されたダイに適用されます。 この規格は、準拠したダイがスタックにまとめられたときに、(1) ダイ内回路および (2) ダイ間回路のテストのための制御およびデータ信号の転送を可能にするスタック レベルのアーキテクチャを構成するダイ レベルの機能を定義します。 両方のダイ相互接続 (a) プリスタッキング ...

IEEE Std 1838-2019 発売履歴

  • 2020 IEEE Std 1838-2019 三次元積層集積回路のテスト アクセス アーキテクチャに関する IEEE 標準
三次元積層集積回路のテスト アクセス アーキテクチャに関する IEEE 標準



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