IEEE 300-1969
半導体放射線検出器 (電離放射線) の米国規格および IEEE 試験手順

規格番号

IEEE 300-1969

出版団体

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

状態

入れ替わる

に置き換えられる

IEEE 300-1982

最新版

IEEE 300-1988

IEEE 300-1969 発売履歴

• 1988 IEEE 300-1988 半導体荷電粒子検出器の標準試験手順
• 1982 IEEE 300-1982 半導体荷電粒子検出器の標準試験手順
• 1970 IEEE 300-1969 半導体放射線検出器 (電離放射線) の米国規格および IEEE 試験手順