NF EN 60749-40:2012
半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - パート 40: ひずみゲージを使用した基板レベル落下試験方法

規格番号

NF EN 60749-40:2012

制定年

2012

出版団体

Association Francaise de Normalisation

最新版

NF EN 60749-40:2012

NF EN 60749-40:2012 発売履歴

• 2012 NF EN 60749-40:2012 半導体デバイス - 機械的および気候的試験方法 - パート 40: ひずみゲージを使用した基板レベル落下試験方法