IEC 60068-2-1:1960
電子部品および電子機器の基本的な環境試験手順 - パート 2: 試験 - 試験 A: 低温

規格番号

IEC 60068-2-1:1960

制定年

1970

出版団体

SCC

状態

入れ替わる

に置き換えられる

IEC 60068-2-1:1966

最新版

IEC 60068-2-1:2007

交換する

en

範囲

非放熱試験片と放熱試験片の両方に対する低温試験に関係します。

IEC 60068-2-1:1960 発売履歴

• 2007 IEC 60068-2-1:2007 環境試験 パート 2-1: 試験 試験 A: 低温
• 1970 IEC 60068-2-1:1990/AMD2:1994 修正 2 - 環境テスト - パート 2: テスト。 テスト A: 風邪
• 1970 IEC 60068-2-1:1990/AMD1:1993 修正 1 - 環境テスト - パート 2-1: テスト - テスト A: 低温
• 1990 IEC 60068-2-1:1990 環境試験パート 2-1: 試験試験 A: 低温
• 1970 IEC 60068-2-1:1974/AMD1:1983 修正 1 - 基本的な環境試験手順 - パート 2-1: 試験 - 試験 A: 低温
• 1970 IEC 60068-2-1:1974 基本的な環境試験手順 - パート 2: 試験 - 試験 A: 低温
• 1970 IEC 60068-2-1:1966 電子部品および電子機器の基本的な環境試験手順 - パート 2: 試験 - 試験 A: 低温
• 1970 IEC 60068-2-1:1960 電子部品および電子機器の基本的な環境試験手順 - パート 2: 試験 - 試験 A: 低温